Расчет обмотки намагничивания (без учета активного сопротивления)

Считаем, что напряжение источника уравновешивается ЭДС самоиндукции и справедливо равенство:

.

Число витков обмотки определим по выражению

, (5.4)

где kR - коэффициент, учитывающий падение напряжения на активном сопротивлении, kR = 0,9 /4/;- минимальное напряжение сети, Umin = 187 В.

.

Принимаем w = 1500 витков.

По значению н.с. определяем ток в обмотке

. (5.5)

А.

Задаемся плотностью тока j = 2,5 А/мм2 и определяем сечение и диаметр провода

; (5.6)

мм2;

мм.

По номинальному ряду /5/ выбираем для провода ПЭВ-2 d = 0,44 мм коэффициентом заполнения kм = 0,586.

Найдем площадь сечения металла провода q:

мм2.

Площадь обмоточного окна Q через коэффициент заполнения kм

. (5.7)

мм2.

Отношение длины катушки l к ее толщине h принимаем , тогда l = 2×h. Следовательно мм.

Принимаем h = 14 мм. l = 2×h = 2×14 = 28 мм.

Размеры окна магнитопровода (L и H) найдем иcходя из возможности размещения КЗ витка, каркаса катушки, запаса на размещение катушки:= 1,2h = 1,2×14 = 16,8 мм,= 1,2)l = 1,2×28 = 33,6 мм.

Принимаем H = 17 мм, L = 34 мм.

Высоту якоря aя находим из рекомендации /4/ я = 0,8×S,

где Sя - площадь сечения якоря, мм.

мм.

Определим омическое сопротивление обмотки и проверим ее на нагрев

, (5.8)

где lср - средняя длина витка обмотки, мм.ср = 4(b+h) = 4(22,5+14) = 146 мм.

Ом.

Проверим обмотку на нагрев. Температуру перегрева t определим по формуле

, (5.9)

где kт = 1,5×10-3 Вт/(см2×°С) - коэффициент теплоотдачи,- активная мощность, Вт:= I2×R0 = (0,362)2×26 = 3,4 Вт.охл - поверхность охлаждения, см2:охл = 8×l×(b+h) = 8×28×(22,5+14) = 8176 мм2.

°С < tдоп.

Другое по теме:

Устройство питания электронных схем
Современный научно-технический прогресс тесно связан с развитием электроники. Успехи электроники являются результатом создания разнообразных по своим свойствам электровакуумных и полупроводниковых приборов. В настоящее время ...

Повышение точности и помехозащищённости средств измерений
Наблюдается постоянная тенденция возрастания требований к точности измерений и соответственно, к совершенствованию измерительной техники. В последние два десятилетия существенный скачок в развитии СИ связан с успехом ...

©  www.techvarious.ru - 2019